ElvaX3

ElvaX3

NOVINKA spektrometr ElvaX3 je nejnovějším modelem energiově disperzního XRF spektrometru od firmy Elvatech. Tento spektrometr v mnoha směrech přináší momentálně nejvyšší výkonnost v oblasti stolních ED XRF spektrometrů. Nejzásadnějšími novinkami jsou:

  • momentálně nejrychlejší stolní ED XRF spektrometr na trhu, maximální rychlost načítání signálu je vyšší jak 500 000 impulzů za 1s. Dosahuje se tak krátkých časů analýzy (několik sekund) a vyšší přesnosti analýzy. Možnost analýzovat až 1000 vzorků za pracovní den.
  • 60 kV rentgenka - umožňuje analyzovat prvky vzácných zemin (La, Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, Eu, Gd), ve spojení s novým detektorem zlepšuje detekční limity pro prvky v rozmezí od Pd (Z=46) po Ba (Z=56), které se vyznačují již velkou energií Ka čar a nízkou účinností záchytu u standardních typů detektorů.
  • nová HD videokamera s vysokým rozlišením pro přesné pozorování a dokumentaci měřeného místa na vzorku (možnost automatického ukládání obrazu do protokolů)
  • nový systémem motorizovaných kolimátorů – umožňuje rychlou změnu velikosti ozařované plochy na vzorku, od velké plochy pro bulk analýzu až po kolimátory menší jak 1 mm, pro lokální analýzu. Unikátní řešení umožňuje zachovat velmi těsnou geometrií spektrometru (malé vzdálenosti mezi rentgenkou, vzorkem a detektorem).
  • žhavící proud rentgenky může být při analýze lehkých prvků až 1000 µA, ve spojení se sevřenou geometrií se dosahuje vynikajících detekčních limitů pro lehké prvky (Na, Mg, Al, Si, P, S). Zároveň je možné používat malé kolimátory (menší jak 1 mm) i pro lokální analýzu lehkých prvků.
  • automatická výměna kolimátorů zajišťuje velmi flexibilní analýzu. Možnost lokální analýzy pro kriminalistickou, archaeometrickou a zlatnickou analýzu nebo kontrolu kvality v automobilovém a elektrotechnickém průmyslu. Současně možnost "bulk" analýzy a ozařování malé plochy na vzorku.
  • možnost použití autosampleru pro 16 vzorků (standardní vzorkovnice 32 mm), snadné vyjmutí karuselu ze spektrometru, automatická inicializace autosampleru (optické senzory) po vložení karuselu do spektrometru. Při vyjmutí karuselu zůstává zachována velká plocha pro analýzu rozměrných vzorků. Díky velmi vysoké rychlosti analýzy a snadné výměně karuselů je možné analyzovat až 1000 vzorků za jeden pracovní den.
  • volitelně automatická rotace vzorku pro přesnou analýzu nehomogenních vzorků. Varianta jak pro autosampler (rotace dostupná u všech pozic), tak pro jednu pozici (spektrometry bez autosampleru). Rotační jednotku pro jednu pozici je možné snadno vyjmout a opět zůstává k dispozici rovná plocha pro umístění velkých vzorků.
  • excelentní stabilita kvantitativních výsledků - automatická korekce na okolní teplotu a tlak

Spektrometr ElvaX3 je zároveň velmi univerzálním spektrometrem. Kromě běžných XRF aplikací (kontrola vstupní suroviny, geologická analýzy, kovové materiály, vzorky životního prostředí, analýza olejů a plastů, ROHS, …) umožňuje optimální použití i pro náročné speciální analýzy jako je analýza forenzních vzorků, materiálový výzkum, kontrola defektů atd.


Produkty


© 2018, RMI, s.r.o. – všechna práva vyhrazena

Prohlášení o přístupnosti | Podmínky užití | Ochrana osobních údajů | Mapa stránek

Webové stránky vytvořila eBRÁNA s.r.o. | Vytvořeno na WebArchitect | SEO a internetový marketing

Nahoru ↑