Přístroje pro TEM

Mechanické testování uvnitř elektronového mikroskopu (SEM i TEM) je rychle se rozšiřující technika pro charakterizaci pokročilých materiálů. Díky elektronovému mikroskopu lze sledovat celý průběh mechanického testování a navíc díky vysokému vakuu v elektronových mikroskopech probíhá experiment v kontrolovaných podmínkách. Pikondentory lze dnes kombinovat téměř s každým typem SEM i TEM a  jejich použití významně rozšiřuje možnosti experimentů prováděných v elektronovém mikroskopu. Následující video ukazuje možné aplikae a měřící módy pikondentorů pro SEM i TEM.

Nanomechanické testovací přístroje pro TEM umožňují například velice přesné pozicování nanoindentační sondy a také kontrolu deformace vzorku během testu. Díky kombinaci s TEM se uživateli otevírají další možnosti, jako korelace nanoindentačních dat s informací z EBSD, časová korelace nanoindentačního děje a vizuální informací ze SEM. Pikoindentory umožňují také měření za zvýšených teplot (do 400°C) a dynamické testování vzorků.

Pikoindentory pro TEM 

PI 95 TEM PicoIndenter®

Přístroj PI 95 TEM PicoIndenter je první plnohodnotný indentor, který je možné integrovat do TEM mikroskopu a kombinovat tak nanomechanické testování s přímým pozorováním v TEM mikroskopu. PI 95 byl navržen pro kompatibilitu s elektronovými mikroskopy od JEOL, FEI, Hitachi a Zeiss. Přístroj umožňuje nejen zobrazovat mechanickou odezvu materiálu, ale také zároveň získávat kvantitativní mechanická data. Integrovaný video interface umožňuje synchronizaci mezi křivkou závislosti zatížení na posuvu a korespondujícím videem z TEM. Systém PI 95 je dále možné upgradovat na ohřev vzorku a elektrické nebo tribologické (scratch) testování.

Více informací naleznete v prospektu nebo na stránkách výrobce.

Vybrané příslušenství

MEMS ohřev 400 oC

Firma Hysitron nabízí také minituarizovaný stolek pro ohřev do 400°C (používá se i pro TEM pikoindentory). Ohřev do 400°C je prováděn odporově pomocí MEMS elementu. Díky malým rozměrům elementu je oblast zvýšené teploty vysoce lokalizovaná, což omezuje ohřívání komponentů systému a poskytuje vysokou úroveň stability pro testování. Teplota je aktivně měřena a kontrolována zpětnou vazbou.

Push-to-Pull

Push-to-Pull (PTP) je spotřební zboží, které umožňuje použít pikoindentor pro testování materiálů v tahu. Na PTP je připevněna nanotrubička nebo tenká vrstva (většinou pomoci FIB techniky), a poté je aplikována tahová zátěž. Tahové vlastnosti vzorku je pak možné korelovat s obrazem z elektronového mikroskopu. K dispozici je také elektrická verze Push-to-Pull (E-PTP), která analýzu dále rozšiřuje o čtyři bodová elektrická měření v průběhu tahového experimentu.

Více informací naleznete v prospektu nebo na stránkách výrobce.

nanoDMA® PI

Některé materiály, jako biologické materiály, skla, polymery a některé kovy mají významnou časovou závislost svých mechanických vlastnostím. Díky viskoelasticitě těchto materiálů je obtížné je celkově popsat klasickými nanoindentačními technikami. Hysitron na základech své tradiční dynamické mechanické analýzy (DMA) nabízí upgrade nanoDMA PI pro in-situ mechanickou analýzu viskoelastických materiálů.

nanoDMA PI nabízí několik testovacích módů, ve kterých je na vzorek aplikována oscilující síla a výsledný posuv amplitudy a posun fáze je měřen pomocí lock-in zesilovače. Pomocí této techniky je možné stanovit kontaktní tuhost a tlumící vlastnosti materiálu a tak změřit storage (E‘), loss modulus (E“) a tan delta. Tuto techniku je možné dále rozšířit na módy pro charakterizaci creepu a vyvolání materiálové únavy při současném monitorování pomocí elektronového mikroskopu.

Zajímavé video demonstrující fungování nanoDMA a postupu šíření trhliny materálem

Více informací naleznete v prospektu nebo na stránkách výrobce.

ECM / Electrical push-to-pull

Electrical characterization module je umožňuje zároveň aplikaci elektrického napětí a měření mechanických vlastností. Nabízena je také kombinace s push-to-pull pro široké pole aplikací.

Další informace najdete v prospektu.

nanoScratch with Lateral Force Sensing

Unikátní nanoScratch transducer nabízí kvantitativní měření laterální síly při nanoScratch testu. Další informace najdete v prospektu.


Produkty


© 2017, RMI, s.r.o. – všechna práva vyhrazena

Prohlášení o přístupnosti | Podmínky užití | Ochrana osobních údajů | Mapa stránek

Webové stránky vytvořila eBRÁNA s.r.o. | Vytvořeno na WebArchitect | SEO a internetový marketing

Nahoru ↑