SEM - XRF

SEM - XRF

IXRF Systems nabízí svou unikátní microXRF techniku také pro integraci do SEM mikroskopů nebo obdobných systémů s vakuovou komorou.

Přidáním polykapilární rentgenky pro buzení rentgenového záření a softwaru Iridium Ultra získáte systém, který výrazně rozšíří analytické možnosti Vašeho SEM mikroskopu:

  • Výrazně lepší citlivost u středně těžkých kovů na úrovni desítek až stovek ppm - 10x až 1000X vyšší citlivost než u EDS sondy (rozsah prvků Na až U)
  • Možnost měření nevodivých vzorků bez zvláštní přípravy
  • Rentgenové záření proniká do hloubek desítek mikrometrů - analýza objemu materiálu, elektrony z klasického EDS pronikají jen povrchově
  • Neruší se s normálním používáním SEM
  • Mikroskop může dále používat EDS sondu a obě metody se tak mohou doplňovat
  • Pokročilý software Iridium Ultra vyvinutý díky dlouholetým zkušenostem výrobce

Srovnání SEM-EDS A SEM-XRF analýzy 

Další informace najdete na stránkách výrobce nebo v informačním prospektu níže.


Produkty


© 2021, RMI, s.r.o. – všechna práva vyhrazena

Prohlášení o přístupnosti | Podmínky užití | Ochrana osobních údajů | Mapa stránek

Webové stránky vytvořila eBRÁNA s.r.o. | Vytvořeno na WebArchitect | SEO a internetový marketing

Nahoru ↑