Infračervená mikroskopie se submikronovým rozlišením - technika O-PTIR

Od roku 2018 zastupujeme firmu Phototermal Spectroscopy Corp, která nabízí unikátní  infračervené mikroskopy s vysokým laterálním rozlišením založené na nové technice -  optické fototermální infračervené spektroskopii (O-PTIR). Infračervená spektroskopie, podobně jako Ramanova spektroskopie, poskytuje informace o chemickém složení vzorku. Její nevýhodou je ale nízké laterální rozlišením vzhledem k použití infračerveného zdroje záření. Nejlepší infračervené mikrospektrometry dosahují dnes reálné laterální rozlišení  přibližně 5 mikrometrů závislé na vlnové délce. Pomocí patentované O-PTIR metody lze řádově vylepšit  až na úroveň 0,5 mikrometru, které je navíc spektrálně nezávislé.


Tato technika nepoužívá jako zdroj širokospektrální infračervený zdroj, ale ladiltelný infačervený laser. Pokud vlnová délka IR laseru odpovídá některému z absorbčních pásů zkoumaného materiálu, dojde k absorbci energie laseru v materiálu a následné rychlé termální expanzi. Tento fototermální efekt je detekován pomocí laseru ve viditené oblasti spektra (typicky 532 nm, případně 785 nm), fokusovaného do stejného místa jako IČ laser. Protože je odezva materiálu detekována pomocí laseru ve viditelné oblasti, lze u takového mapování dosáhnout řádově lepšího laterálního rozlišení -  výsledkem jsou mapy infačervených spekter s laterálním rozlišením 0.5 mikrometru. Navíc lze laser ve viditelné oblasti použít pro měření Ramanova spekter simultánně a z stejného bodu jako v případě infračervené spektroskopie. Pincip je schématicky popsán na  přiloženém videu.

Vysvětlení principu optické fototermální infračervené spektroskopie (O-PTIR)


Produkty


© 2022, RMI, s.r.o. – všechna práva vyhrazena

Prohlášení o přístupnosti | Podmínky užití | Ochrana osobních údajů | Mapa stránek

Webové stránky vytvořila eBRÁNA s.r.o. | Vytvořeno na WebArchitect | SEO a internetový marketing

Nahoru ↑