ATLAS - microXRF spektrometr

ATLAS - microXRF spektrometr

ATLAS je série jedinečných hyperspektrálních zobrazovacích spektrometrů využívající techniku microXRF pro měření a mapování prvků od sodíku (Na) po uran (U).

Vlastnosti microXRF spektrometru ATLAS:

  • Prostorové rozlišení až 5 um -  kombinace malého spotu rentgenového záření (rentgenka s polykapilární optikou) v kombinaci s geometrickým uspořádaním - rentgenka kolmo k povrchu vzorku


Srovnání geometrie měření - vlevo IXRF, vpravo konkureční přístroje

  • Analýza vzorku desítky mikrometrů do hloubky vzorku
  • Největší detektor rentgenového záření umožňuje velmi rychlé rychlé měření - lze kombinovat až 4 SSD detektory (detekční plocha až 600 mm)
  • Rychlé skenování pomocí rychlého motorizovaného stolku
  • Velká vzorková komora pro různé druhy vzorků (pevné, kapalné nebo práškové vzorky)
  • Evakuace vzorkové komory do 1 minuty
  • Díky dlouholetým zkušenostem nabítí výrobce pokročilý, uživatelsky přívětivý software Iridium Ultra - jednoduchá navigace v v softwaru, pokročilé moduly jsou součásti ceny, není nutné je dokupovat - tvorba reportů, micro XRF fázová analýza, analýza částic, morfologie a ASTM testovací metody

  • Vysoká míra automatizace měření - velká průchodnost vzorků, ideální pro rutinní kontroly kvality (QC) výrobků

Videa níže představují přístroj a motorizovanou stage.

Další informace, včetně dalších videí, najdete na stránkách výrobce, případně v informačním prospektu níže.

Příklady aplikací

Periodická tabulka

  • Kvantitativní stanovení prvků od sodíku (Na) po Uran (U)
  • Ve všech typech vzorků: pevné látky, prášky, částice a tenké vzorky
  • Od nízkých PPM po 100 % (hmotnostních)
  • Hyperspektrální mikroskopické zobrazování, kde je v každém pixelu zaznamenáno kompletní spektrum
  • Mapování, čárové skeny, vicebodová a jednobodová kvantitativní analýza

Forenzní analýza skla


  • Plně v souladu s ASTM E-2926-13
  • Volitelná možnost automatizace pro analýzu forenzní analýzu skla
  • Funke softwaru
    • Snadný "Wizard" přístup ke standardním kalibracím
    • Automatický výpočet obtížných poměrů a požadovaných statistik
    • Automaticky vytváří soubor Excel dle požadované struktury protokolu pro soudní případy.

Life science

  • Hyperspektrální XRF mikroskopie
  • Mezi možná použití patří anatomie, botanika a další.
  • 100% nedestruktivní
  • Narozdíl od SEM není třeba povlak nebo příprava vzorku
  • Techniku je možné použít také na nevodivé vzorky
  • Automaticky provede kvantitativní analýzu pro každý pixel

Forenzní analýza úlomků barvy

  • Velmi výkonný forenzní nástroj schopný analýzy z jednoho nebo více bodů
  • Hyperspektrální XRF mikroskopické kvantitativní zobrazování prvků
    • Pro identifikaci rozložení prvků ve vzorku
    • Analýza úlomků barvy a vrstev barvy je běžná forenzní aplikace
  • Rozlišení i velmi podobných vzorků podle různých složek barvy

Inspekce plošných spojů

  • Rychlé rentgenové mapování elektroniky pro inspekci
  • Kompletní rentgenové spektrum každého pixelu na mapě
  • Měření tenkých zlatých a paladiových povlaků na PCB
  • Měření tloušťky povlaků Cu, Ni atd.
  • Měření složení pájky
  • V souladu s RoHS / WEEE

Zobrazování olověných rámečků

  • Měření na velmi malých plochých komponentách a strukturách jako jsou vodivé cesty, kontakty nebo olověné rámečky
  • Měření typických vícesložkových povlakových systémů např. AuAg/Pd/Ni/CuFe nebo Au/Pd/Ni/CuFe v rozsahu nanometrů.
  • Stanovení obsahu fosforu v NiP povlacích
  • Měření funkčních povlaků v elektronickém a polovodičovém průmyslu
  • Stanovení komplexních více povlakových systémů

Metrologie waferů

  • Měření Sn/Ag prohlubní/sloupců
  • Lehké prvky
  • Složení sloupců kovových vrstev jako je CIGS
  • Cu CMP ovládání na BEOL
  • Více-sloupcové struktury
  • Naprašovací terče
  • Povlaky pro tepelnou izolaci
  • Kontrola tloušťky a složení

Léčiva

  • Stopové XRF-spektrometrické mapování na 5 mikronech
  • Stopová analýza kovových nečistot a inkluzí
  • Nedestruktivní prvková analýza
  • Quality control / quality assurance
  • Analýza částic
  • Analýza distribuce a/nebo fází

Půdy a vrtná jádra

  • Rychlé fázové mapy pomocí Principal Components Analysis (PCA)
  • Během minut automatické rychlé mapování vzorků pro hledání stopových množství nebezpečných prvků
  • Žádná příprava vzorků
  • Analýza v atmosféře, pod heliem nebo ve vakuu
  • Identifikace minerálů
  • Fázová rozhraní

Kovy a slitiny

  • Pokročilé kontinuálně odlévané vysokopevnostní nízkolegované oceli často podléhají prvkové separaci podél středové linie sochoru nebo desky během odlévání a chlazení
  • Pomocí mapování, microbodové energiově disperzní rentgenové fluorescenční (microEDXRF) spektroskopie, je možné rychle skenovat oblasti středové linie a kvantitativně monitorovat prvkovou nehomogennost
  • Zatímco mnoho klíčových prvkůch v kontinuálně odlévaných vysokopevnostních ocelích kosegreguje, obzvláště zajímavý je mangan (Mn), který je primární vytvrzovací složkou a je možné jej snadno měřit na vzduchu.
  • Mezi další segregující prvky patři: Cr, Ni, Mo, S, P, Al a Si

Geologie

  • microEDXRF z malého spotu rozšiřuje geologovy možnosti. Micro-XRF se ideálně hodi pro analýzu anorganických vzorků a nabízí výbornou citlivost pro analýzu stopových prvků a fází.
  • Bodová analýza umožňuje rychlou identifikaci minerálních fází, dokonce i při analýze jednotlivých zrn rozdrceného kamene nebo mikroskopických rysů v řezu
  • XRF hyperspektrální zobrazování nabízí detailní obrazy prvků, které zvýrazňují distribuci minerálních fází a ilustrují obecnou strukturu kamene
    • geologické tenké řezy
    • identifikace minerálů
    • fázová rozhraní
    • vulkanický materiál
    • jádra sedimentů
    • důlní průzkum
    • drahokamy
    • meteority
    • těžební zkušení jádra

Cement a agregáty

  • Prvkové mapování betonu a cementů pomocí této metody nabízí analytikovi příležitost vizuálně a chemicky prozkoumat fyzický vzorek
  • XRF je zavedená technika pro kontrolu kvality a shody výsledného cementového produktu
  • Fázové mapování betonových jader nabízí kvantitativní data o distribuci agregátů

RoHS / WEEE

  • S mapováním pomocí stolku (stage) je možné rychle mapovat velké vzorky za účelem identifikace zakázaných materiálů
  • Není nezbytné dopředu vědět jaké prvky jsou přítomny před měřením mapy
  • Prvky mohou být přidávány když spektrum roste a píky začínají být evidentní
  • ATLAS X nabízí největší vzorkovou komoru v oboru

Archeometrie

  • Citlivé a cenné archeologické objekty mohou být pomocí Micro-XRF spektrometru snadno a spolehlivě analyzovány 
  • microEDXRF (µXRF) technika nabízí rychlou nedestruktivní analýzu objektů, zejména na malých vzorkových oblastech
  • ATLAS X nabízí největší vakuovou komoru v oboru a umožňuje tak analýzu prvků s nízkým Z na velkých objektech

CIGS solární panely

  • Analýza tenkých filmů fotovoltaických článků je běžně prováděna pomocí micro-XRF.
  • S přístrojem ATLAS je možné skenovat struktury pod vakuem pro vynikající výsledky
  • Pro in-line kontrolu během produkčního procesu stejně jako pro finální testování
  • Takto stanovená tloušťka vrstev je ve velmi dobré shodě s výsledky WDXRF

Produkty


© 2021, RMI, s.r.o. – všechna práva vyhrazena

Prohlášení o přístupnosti | Podmínky užití | Ochrana osobních údajů | Mapa stránek

Webové stránky vytvořila eBRÁNA s.r.o. | Vytvořeno na WebArchitect | SEO a internetový marketing

Nahoru ↑